H21 金属物理性能试验方法 标准查询与下载

GB/T 5985-2003 热双金属弯曲常数测量方法

本标准规定了热双金属弯曲常数测量方法的术语、定义、原理、试样、测量仪器及工具、测量步骤、结果计算及误差等。 本标准适用于测量厚度为0.25mm～1.20mm的热双金属平直条状试样的弯曲常数。测量温度范围为：室温～100℃。 本标准测量方法采用悬臂梁法。

Test method for specific flexivity constant of ther mostat metals

GB/T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法

本标准规定了测定电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数所使用的方法。这些测定值是材料磁性能的标志。实际上，在试样厚度未知时，测量磁感应强度需要试样的密度值。 为测定密度，以前曾考虑将浸没法作为有争议时的基本方法。但是，经验表明这一方法对于具有较大表面积的片状试样很难操作。因此这一方法不再列入，GB/T 5163、GB/T 1033和ISO 1183述及该方法。

Methods of measurement of density,resistivity and stacking factor of electrical steel sheet and strip

GB/T 8643-2002 含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定 修正的索格利特(Soxhlet) 萃取法

本标准规定了一种含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定方法。这种方法也适用于测定元素含量，例如

Lubricated metal-powder mixes--Determination of lubricant content--Modified Soxhlet extraction method

GB/T 3655-2000 用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法

本标准规定了用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的交流测量的一般原理、比总损耗的测量方法、磁极化强度峰值、磁场强度有效值、磁场强度峰值和比视在功率的测定方法、直流测量的一般原理、磁极化强度的直流测量方法、测量装置的校准和试验报告。 本标准适用于晶粒取向和晶粒无取向电工钢片(带)的直流磁性能测量及频率上限为400Hz的交流磁性测量。适用于从任何等级的电工钢片(带)上取得的试验试样。 试样测量前应首先退磁，测量应在环境温度(23±5)℃，相对湿度小于80%下进行。更高频率下的测量应按照GB/T 10129进行。

Methods of measurement of the magnetic properties of electrical steel sheet and strip by means of an Epstein frame

GB/T 18036-2000 铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法

本标准规定了用熔丝法和比较法测量铂铑热电偶细丝热电动势的方法。 本标准适用于测量直径不大于0.1mm的铂铑热电偶细丝。其他贵金属和贱金属热电偶细丝的热电动势测量也可参照进行。

The test method of thermo-emf for platinum rhodium thermocouple thin wires

GB/T 5986-2000 热双金属弹性模量试验方法

Test method for modulus of elasticity of thermostat metals

GB/T 4067-1999 金属材料电阻温度特征参数的测定

本标准规定了金属材料及其他相关导电材料电阻温度特征参数测量方法的定义、原理、测试装置、试样制备、试验电流、测量程序、测量结果计算、试验报告、精度和偏差等。 本标准适用于在适宜的温度间隔内，测定任何一种金属或合金丝、片材电阻与温度关系曲线近似抛物线时的关系式和相应的电阻温度常数、峰值温度，及在适宜的温度间隔内，确定任何一种金属、合金或其他导电材料的电阻温度因数及平均电阻温度系数等特征参数。

Testing method for electrical resistance-temperature characteristicparameters of metallic materials

GB/T 4339-1999 金属材料热膨胀特征参数的测定

本标准规定了金属材料及其他相关固体材料热膨胀特征参数测量方法的定义及符号、原理、测试装置与要求、试样制备、膨胀仪校正、测量程序、测量结果计算、试验报告、精度与偏差等。 本标准适用于借助由同种熔融石英载体与推杆构成的组件，在-180～900℃温度范围内，检测金属材料试样的线性热膨胀，也适用于陶瓷、耐火材料、玻璃、岩石等具有刚性固体特征的试样的线性热膨胀的检测；若改用高纯度氧化铝的组件，温度范围可扩至1600℃；改用各向同性的石墨，则可扩至2500℃。

Testing method for thermal expansion characteristic parameters of metallic materials

GB/T 6608-1999 铝箔厚度的测定 称量法

本标准适用于厚度不大于0.05mm铝箔的厚度测定。 其他金属箔的厚度测定也可参照本标准。

Measuring thickness of the aluminium foil--Weighing method

GB/T 5166-1998 烧结金属材料和硬质合金弹性模量测定

本标准适用于纵向振动法测定烧结金属材料和硬质合金的动态（绝热的）弹性模量。

Sintered metal materials and hardmetals--Determination of Young's modulus

GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

本标准规定了贵金属浆料方阻的测试方法。 本标准适用于贵金属烧结型浆料方阻的测宝。非贵金属浆料亦可参照使用。

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance

GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

本标准规定了贵金属浆料细度的刮板试验方法。 本标准适用于贵金属浆料细度测定。非贵金属浆料的细度测定亦可参照使用。

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness

GB/T 17170-1997 非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法

本标准规定了非掺杂半绝缘砷化镓单晶及其晶片深能级EL2浓度红外吸收测试方法。 本标准适用于电阻率大于10Ω·cm的非掺杂半绝缘砷化镓单晶及其晶片深能级EL2浓度的测定。 本标准不适用于掺铬半绝缘砷化镓试样深能级EL2浓度测定。

Test method for deep level EL2 concentration of undoped semi-insulating monocrystal gallium arsenide by measurement infrared absorption method

GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法

本标准规定了硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法。 本标准适用于载流子浓度小于5×10cm、室温电阻率大于0.1Ω·cm的硅单晶中代位碳原子浓度的测定。由于碳也可能存在于间隙位置，因而本方法不能测定总碳浓度。 本标准也适用于硅多晶中代位碳原子浓度的测定，其晶粒界间区的碳同样不能测定。 本标准测量碳原子浓度的有效范围为：室温下从硅中代位碳原子浓度1×10at·cm（200PPba）到碳原子的最大溶解度，77K时下限降到5×10at·cm（100PPba）。

Test method for substitutional atomic carbon content of silicon by infrared absorption

GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法

本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。 本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的晶体的表面取向。 本标准包括两种试验方法： 方法A X射线衍射定向法。该方法可用于所有半导体单晶的定向。 方法B 光图定向法。该方法目前用于单一元素半导体单晶的定向。

Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal

GB/T 17103-1997 金属材料定量极图的测定

本标准规定了用X射线衍射仪测绘金属材料定量极图的基本方法。 本标准适用于冷、热加工金属板和一定条件下的再结晶金属板。其他多晶材料定量极图测绘也可参照本方法。

Metal material--Quantitative pole figure preparing method

GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。 本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。

Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay

GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法

本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。 本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。 本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定。

Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials

GB/T 1425-1996 贵金属及其合金熔化温度范围的测定 热分析试验方法

本标准规定了采用差热分析仪（DTA）或差未扫描量热计（DSC）测定贵金属及其合金熔化温度范围的方法。 本标准适用于熔化开始时呈现“一致性熔化过程”为特征的贵金属及其合金的固相线温度及液相线温度的测定。 本标准也适用于其余类型贵金属合金的液相线温度、其他种类金属合金的相应特征温度以及能呈现明显峰形的固相转变温度的测定。 本标准的试验温度范围取决于所采用的仪器，通常为温度～1500℃。

Determination of melting temperature range for precious metals and their alloys--Testing method of thermal analysis

GB/T 1424-1996 贵金属及其合金材料电阻系数测试方法

本标准规定了贵金属及其合金材料电阻系数、单位长度电阻和质量电阻系数的测试方法。 本标准适用于横截面积均匀的贵金属及其合金线材、带材的电阻系数、单位长度电阻和质量电阻系数的测定。其他金属及合金材料亦可参照使用。

Method of measurement of resistivity of precious metals and their alloys