K46 电力半导体器件、部件 标准查询与下载

KS C IEC 60749-7:2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部含水量的测量

이 규격은 금속 또는 세라믹 밀봉 소자 내의 대기 중 수증기 및 다른 기체들의 함량을 측

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 7：Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

KS C IEC 60749-2:2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压

이 규격은 반도체 소자의 저 대기압 시험을 다루고 있다. 시험은 감압 중에 대기 및 기

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 2：Low air pressure

KS C IEC 60749-10:2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分:机械冲击

충격 시험은 거친 취급, 수송 또는 공정 과정에서 발생되는 갑작스런 힘의 작용이나 작동

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 10：Mechanical shock

KS C IEC 60749-12:2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:振动、可变频率

이 규격은 규정된 주파수 범위 내에서 가변 주파수 진동이 내부 구조적인 요소들에 대해

Semiconductor devices-Mechanical and climatictest methods-Part 12:Vibration, variable frequency

KS C IEC 60749-6:2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存

이 규격은 전기적 스트레스를 적용하지 않고 고온에서의 저장이 모든 반도체 전기 소자에

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 6:Storage at high temperature

KS C IEC 60748-11:2004 半导体器件.集成电路.第11部分:半导体集成电路(混合电路除外)的分规范

이 품종 규격은 멀티 칩 집적 회로를 포함한 캡슐 봉합된 반도체 집적 회로에 적용한다.

Semiconductor devices－Integrated circuits－Part 11：Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

KS C IEC 60747-5-1:2004 半导体分立器件和集成电路第5-1部分:光电子器件总规范

이 규격은 반도체 광전 소자와 관련된 용어에 대하여 취급한다.

Discrete semiconductor devices and integrated circuits－Part 5－1：Optoelectronic devices－General

KS C IEC 60747-10:2004 半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路的总规范

이 규격은 IEC 전자 부품 품질 인증 제도의 일부분이다.이 규격은 반도체 소자(혼

Semiconductor devices－Part 10：Generic specification for discrete devices and integrated circuits

KS C IEC 60749-22:2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第22部分:粘接强度

이 규격은 반도체 소자에 적용 가능하다(개별 소자와 집적 회로).이 규격의 목적은

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 22:Bond strength

KS C IEC 60747-5-3:2004 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电子器件.测试方法

이 규격은 광섬유 시스템 또는 서브시스템 분야에 사용하지 않는 광전 소자의 측정 방법에

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 5－3：optoelectronic devices－Measuring method

KS C IEC 60747-1:2004 半导体器件.分立器件.第1部分:总则

IEC 60747의 목적은 다음과 같다.-집적 회로뿐 아니라 개별 소자에도 일반적으로

Semiconductor devices－Discrete devices and integrated circuits－Part 1：General

KS C IEC 60748-11-1:2004 半导体器件.集成电路.第11部分第1节:半导体集成电路(混合电路除外)内部目视检查

이 규격의 목적은 적용 가능한 규격 요구 사항에 부합하도록 집적 회로의 내부 재료, 구

Semiconductor devices－Integrated circuits－Part 11－1：Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

KS C IEC 60747-5:2004 半导体分立器件和集成电路第5部分:光电子器件

이 규격은 소자의 다음 범주 또는 하위 범주에 적용된다:다음을 포함하는 반도체 포토

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 5：Optoelectronic devices

KS C IEC 60747-5-2:2004 半导体分立器件和集成电路.第5-2部分:光电子器件.基本额定值及特性

이 규격은 광섬유 시스템 또는 서브시스템 분야에 사용하지 않는 광전 소자의 다음 범주

Discrete semiconductor devices and integrated circuits－Part 5－2：Optoelectronic devices Essential ratings and characteristics

KS C IEC 60749:2004 半导体器件.机械和气候试验方法

이 규격은 각각의 반도체 개별 소자 및 집적 회로에 사용 가능한 방법을 나열한 것이다. 그

Semiconductor devices－Mechanical and climate test methods

JIS C 4402:2004 浮充电用可控硅整流器

この規格は,JIS C 8704-1, JIS C 8704-2及びJIS C 8706に規定する据置蓄電池(以下,蓄電池という。)の浮動充電用サイリスタ整流装置(以下,整流装置という。)で，公称直流電圧200V以下,定格直流電流600A以下のものについて規定する。ただし，通信機器用整流装置を除く。

Thyristor rectifiers for floating charge

CSA E61965-04-CAN/CSA-2004 阴极射线管的机械安全标准.第2版.IEC 61965:2003

test for genotoxicity carcinogennicity and reproductive toxicity.

Mechanical Safety of Cathode Ray Tubes Second Edition; IEC 61965:2003

JIS C 5381-321:2004 低压电涌保护设备元件.雪崩击穿二极管规范

この規格は，低圧配電システム。伝送及び信号回線に接続するサージ防護デベイスの設計及び構成に用いるサージ防護デベイス用素子(以下.SPDCという。)のアベランシブレークダウンダィオード(以下,ABDという。)の試験方法について規定する。この規格の試験仕様は，2端子からなるABD単体用のものとする。

Components for low-voltage surge protective devices -- Specifications for avalanche breakdown diode (ABD)

KS C IEC 61341:2003 反光灯的中心波束强度及波束张角的测量方法

이 규격은 반사형 램프의 중앙 빔 세기와 이와 관련된 빔 각도의 측정과 결정 방법에 관

Method of measurement of centre beam intensity and beam angle(s) of reflector lamps

KS C IEC 60748-5:2003 半导体器件.集成电路.第5部分:半非标准集成电路

이 규격에서는 다음 분류도에 포함되는 반주문형 집적 회로의 하위 범주에 관한 규격을 규

Semiconductor devices－Integrated circuits－Part 5：Semicustom integrated circuits