KS C IEC 60749:2004
半导体器件.机械和气候试验方法

Semiconductor devices－Mechanical and climate test methods

被代替

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标准号

KS C IEC 60749:2004

发布

2004年

发布单位

韩国科技标准局

替代标准

KS C IEC 60749-21:2005

当前最新

KS C IEC 60749-34-2017(2022)

 

 

适用范围

이 규격은 각각의 반도체 개별 소자 및 집적 회로에 사용 가능한 방법을 나열한 것이다. 그

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