L90 电子技术专用材料 标准查询与下载



共找到 643 条与 电子技术专用材料 相关的标准,共 43

本部分规定了热释电陶瓷、晶体和有机材料在100 Hz~100 kHz范围的介质损耗角正切tanδ的测量方法。 本部分适用于测量钛酸铅、锆钛酸铅、钛酸锶钡、钽钪酸铅等热释电陶瓷材料和铌镁酸铅、钽酸锂、三甘氨酸硫酸盐族等热释电晶体材料的介质损耗角正切tanδ,也适用于测量其他类似陶瓷、晶体及有机热释电材料的介质损耗角正切tanδ。

Test method for dielectric tangent of loss angle of pyroelectric materials

ICS
31.020
CCS
L90
发布
2015-12-31
实施
2016-07-01

本部分规定了热释电材料本征热释电系数的测量方法。 本部分适用于测量钽酸锂、钛酸铅、锆钛酸铅、铌镁酸铅等热释电材料的热释电系数。本部分也适用于热释电系数在1×10C/(cm ?℃)数量级以上其他陶瓷、单晶和有机热释电材料等的测量。本部分不适用于钛酸锶钡、钽钪酸铅等场致热释电材料的热释电系数测量。

Test method for pyroelectric coefficient of pyroelectric materials

ICS
31.020
CCS
L90
发布
2015-12-31
实施
2016-07-01

Test method for determining the content of vinyl acetate in ethylene-vinyl acetate copolymer applied in photovoltaic modules—Thermal gravimetric analysis (TGA)

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-09-11
实施
2016-05-01 00:00:00.0

Tin coated copper ribbon for photovoltaic application

ICS
CCS
L90
发布
2015-09-11
实施
2016-05-01

本标准规定了光伏组件用涂锡焊带的术语和符号、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。 本标准适用于地面晶体硅光伏组件用涂锡焊带。

Tin-coated copper ribbon for photovoltaic application

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-09-11
实施
2016-05-01

本部分规定了黑白显示管器用荧光粉的要求.试验方法、检验规则、\包装运输和储存。 本部分适用于黑白显示管器用荧光粉。

Phosphors.Part 4-1:Phosphor for black-white picture tubes

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

本部分规定了指示管用荧光粉的要求、试验方法、检验规则、包装、运输和储存。 本部分适用于指示管用荧光粉。

Phosphors.Part 4-2:Phosphor for indicator tubes

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

本部分規定了示波管和显示管用荧光粉的要求,试验方法、检验规则,包装.运输和储存。 本部分适用于示波管和显示管用荧光粉。

Phosphors.Part 4-3:Phosphors for oscilloscope tubes and display tubes

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

本部分规定了荧光粉水溶性氯化物、密度、粒度分布、相对亮度、相对光谱功率分布、色品坐标、紫外辐照稳定性、余辉相对亮度、比表面积、流明效率、余辉时间、热稳定性、湿粘着力、干粘着力、反射率、温度特性、pH值、电导率的测试方法。本部分适用于荧光粉的性能测试,其中,紫外辐照稳定性、余辉相对亮度和比表面积的测试方法仅适用于光致发光荧光粉,流明效率、余辉时间、热稳定性、湿粘着力、干粘着力、反射率的试验方法仅适用于阴极射线致发光荧光粉。

Phosphors.Part 3:Test methods for properties

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

本标准规定了测定氧化铍陶瓷材料导热系数(热导率)的棒轴法和激光闪烁法。 本标准规定的棒轴法适用于测量氧化铍陶瓷温度在40 ℃~150 ℃范围内的热导率值。此方法也适用于在上述温度范围内测量其他的低热导率陶瓷材料或陶瓷基复合材料热导率。本标准规定的激光闪射法适用于在室温至1 400 ℃范围内测量孔隙率小于10%的氧化铍陶瓷材料的热扩散系数及其热导率。此方法也适用于在上述温度范围内的测量热扩散系数在10 m/s~10 m/s间的、完全均质的、对能量脉冲不透明的其他固体材料的热扩散系数及热导率;不适于测量非均匀或各向异性的材料。

Test method for thermal conductivity of beryllium oxide ceramics

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

GB/T 5838的本部分规定了荧光粉材料常用的名词术语和定义。 本部分适用于荧光粉常用名词术语的理解和使用。

Phosphors.Part 1:Terminology

ICS
31.030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

本部分规定了 Y22-G3、Y22-B2、Y22-R4荧光粉的要求、测试方法、检验规则、标志以及包装、运输和储存等。 本部分适用于彩色显像管用荧光粉。

Phosphors.Part 4-4:Phosphor for color picture tubes

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

本部分规定了荧光粉牌号的表示方法。 本部分适用于光致发光荧光粉、阴极射线致发光荧光粉、电致发光荧光粉、放射线致发光荧光粉及其他方式致发光荧光粉。

Phosphors.Part 2:Types

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 8:Test method for microstructure

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、镁橄榄石、氮化物陶瓷等电子陶瓷透液性的检验方法。本部分适用于品红溶液检验法(俗称吸红法)来检验电子陶瓷表面及内部的不正常孔隙、微裂纹及是否生烧。

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 7:Test method for liquid permeability

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

本部分規定了Y30-Gl、Y30-Bl、Y30-R1 荧光粉的要求、测试方法、检验规则、标志以及包装、运输和储存等。 本部分适用于彩色显示管用荧光粉。

Phosphors.Part 4-5:Phosphor for color display tubes

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

本标准规定了电子元器件结构陶瓷的种类、级别、技术指标要求、试验方法和检验规则。本标准适用于电子元器件用结构陶瓷材料。

Structure ceramic materials used in electronic component and device

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

GB/T 5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试。

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

本标准规定了等离子显示器(PDP)用荧光粉的术语和定义、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和储存。 本标准适用于等离子显示器(PDP)用荧光粉。

Phosphors for plasma display panel

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01

本标准规定了半导体材料切削液的各项技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、储存及运输等要求。 本标准适用于半导体材料线切割加工采用的切削液。

Semiconductor materials cutting fluid

ICS
31-030
CCS
L90
发布
2015-05-15
实施
2016-01-01



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