- SEM/EDS
SEM:扫描电子显微镜，又名SEM，扫描电镜，是一种在真空下用电子束扫描样品表面，逐点激发二次电子信号，根据信号强度组成形貌照片，做高倍率的表面外观形貌观察的仪器。主要用途：1、外观形貌观察，放大10......
- X-Ray
应用范围：1、利用x射线透视观察样品内部结构，察看集成电路样品内部是否有封装结构缺陷，如金丝熔断、焊锡空洞等。2、是应用最广泛的无损检测工具，对于各种明显结构缺陷可以直接透视观察。受限制因素：样品大小......
- 金相切片
试验样品：PCB\PCBA,元器件试验方法：对样品进行固封、切割、研磨、抛光应用范围1、切片后的样品常用立体显微镜或者金相测量显微镜观察 ：固态镀层或者焊点、连接部位的结合情况，是否有开裂或微小缝隙（......
- 科睿检测服务范围
自然环境可靠性测试
高温、低温、温度冲击、温度循环、湿度、恒定湿热、交变湿热、盐雾试验等
动力环境可靠性测试
振动试验、机械冲击试验、跌落试验、运输包装试验等
户外环境可靠性测试
太......
- 科睿检测提供环境可靠性试验、失效分析、理化检测
无锡科睿检测服务有限公司是国内较早开展环境可靠性工程试验技术研究与应用的专业检测服务机构，经过数年的发展已成为集可靠性环境测试、失效分析、理化检测为一体的综合性检测服务机构。主要从事军/民电工电子、信......
