世界首台JEM-ARM200F拍摄图像堪比哈勃
2010年1月开始在University of Texas at San Antonio安装的世界首台JEM-ARM200F在2月初已获得惊人结果。
能在短短3周内就能获得至少78皮米分辨率彰显了该仪器的超级稳定性和UTSA-JEOL出色的合作与技巧。
世界著名显微学及纳米技术学者，UTSA物理与天文系主任( physics and astronomy department chair )Dr. Miguel Yacaman亲自与JEOL的技术人员合作，见证了这一惊世结果。
Yacaman说“有了这种水平的电镜，应用潜力巨大”， 他还将JEM-ARM200F 比作探索银河系奥秘的哈勃望远镜。
ARM200F展现了日本电子株式会社(JEOL) 60年以上透射电镜研发的经验，该仪器已将球差校正器与电镜本体彻底融合，实现了超级电子光学能力和超强的抗干扰能力。
JEM-ARM200F 具有原子间图像分辨率(atom-by-atom imaging resolution )和无与伦比的原子间空间分辨率(unmatched spatial resolution for atom-to-atom chemical mapping of materials)。
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