IEC 60759-1983
半导体X射线能谱仪的标准试验程序

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

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标准号

IEC 60759-1983

发布日期

1983

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

F81

国际标准分类号

17.240

发布单位

IX-IEC

适用范围

Such systems consist of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Test procedures for pulse-height analyzers and computers are not covered in this standard. Companion pub

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