IEC 60759-1983
半导体X射线能谱仪的标准试验程序

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers


 

 

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标准号
IEC 60759-1983
发布日期
1983
实施日期
废止日期
中国标准分类号
F81
国际标准分类号
17.240
发布单位
IX-IEC
适用范围
Such systems consist of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Test procedures for pulse-height analyzers and computers are not covered in this standard. Companion pub

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