IEC 60759-1983
半导体X射线能谱仪的标准试验程序

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

IEC 60759-1983 发布历史

Such systems consist of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Test procedures for pulse-height analyzers and computers are not covered in this standard. Companion pub

IEC 60759-1983由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1983。

IEC 60759-1983 在中国标准分类中归属于: F81 通用核仪器，在国际标准分类中归属于: 17.240 辐射测量。

IEC 60759-1983的历代版本如下：

• 1983  IEC 60759-1983 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
• 1991-11-15  IEC 60759-1983/AMD1-1991 修改件1——半导体X射线能谱仪的标准试验程序

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标准号

IEC 60759-1983

发布日期

1983

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

F81

国际标准分类号

17.240

发布单位

IX-IEC

适用范围

Such systems consist of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Test procedures for pulse-height analyzers and computers are not covered in this standard. Companion pub

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