SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
Measure methods of semiconductor light emitting diodes
SJT11394-2009, SJ11394-2009
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- 标准号
- SJ/T 11394-2009
- 别名
- SJT11394-2009
SJ11394-2009 - 发布
- 2009年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 11394-2009
- 引用标准
- ANSI/ESD STM 5.1-2001 ANSI/ESD STM 5.2-1999 CIE 127-1997 GB/T 11499-2001 GB/T 15651-1995 GB/T 3977-2001 GB/T 4365-2003 GB/T 5698-2001 GB/T 5702-2003 GB/T 7921-1997 GB/T 7922-2003
- 被代替标准
- SJ 2355.7-1983 SJ 2355.6-1983 SJ 2355.5-1983 SJ 2355.4-1983 SJ 2355.3-1983 SJ 2355.2-1983 SJ 2355.1-1983
- 本标准规定了半导体发光二极管（以下简称器件）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管。紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。
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