本标准规定了半导体发光二极管(以下简称器件)的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管。紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。
SJ/T 11394-2009由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 2009-11-17,并于 2010-01-01 实施。
SJ/T 11394-2009 在中国标准分类中归属于: L41 半导体二极管,L45 微波、毫米波二、三极管,在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。
SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法 由 SJ 2355.7-1983 变更而来。
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