JJF 1351-2012
扫描探针显微镜校准规范

Calibration Specification for Scanning Probe Microscopes


JJF 1351-2012 中,可能用到以下仪器

 

MicOS显微光谱测量系统

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HORIBA科学仪器事业部

 

EPMA-8050G电子探针显微分析仪

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

扫描电化学显微镜(SECM)

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瑞士万通中国有限公司--实验室分析仪器

 

MCL  纳米计

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北京欧兰科技发展有限公司

 

FemtoTools 纳米机械手

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上海纳腾仪器有限公司

 

电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜

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QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

基恩士 数码显微镜 VHX

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基恩士(中国)有限公司

 

岛津高分辨率扫描探针显微镜 SPM-8000FM型

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

扫描探针显微镜 SPM-9700型

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

安捷伦5500LS原子力显微镜

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安捷伦科技(中国)有限公司

 

Helios DualBeam™扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

 牛津仪器MFP-3D-BIO™原子力显微镜

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牛津仪器(上海)有限公司

 

SmartSPM 原子力显微镜

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HORIBA科学仪器事业部

 

Combiscope 原子力显微镜

Combiscope 原子力显微镜

HORIBA科学仪器事业部

 

美国 Cascade M150探针台

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上海纳腾仪器有限公司

 

MCL MadPLL® 扫描探针显微镜通用控制器

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北京欧兰科技发展有限公司

 

MCL原子力显微镜SPM-M套件

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北京欧兰科技发展有限公司

 

MCL 原子力显微镜用音叉探针

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北京欧兰科技发展有限公司

 

MCL MadPLL®原子力显微镜控制器

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北京欧兰科技发展有限公司

 

MCL  纳米计

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北京欧兰科技发展有限公司

 

JJF 1351-2012



标准号
JJF 1351-2012
发布日期
2012年06月18日
实施日期
2012年09月18日
废止日期
中国标准分类号
N32
发布单位
CN-JJF
引用标准
JJF 1001-2011 GB/T 19067.1-2003
适用范围
本规范适用于以几何表面形貌为测量对象的扫描探针显微镜的校准。 扫描探针显微镜根据其设计原理不同,校准时需要根据实际情况选择相关的计量特性。对有特殊要求的测量任务,如对溯源要求较高的测量,不在本校准规范的适用范围。

JJF 1351-2012 中可能用到的仪器设备





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