JJF 1351-2012
扫描探针显微镜校准规范

Calibration Specification for Scanning Probe Microscopes


JJF 1351-2012 中,可能用到以下耗材

 

探针位移器

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二维调整台

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原子力显微镜探针(DNP-S)

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原子力显微镜探针(RTESP)

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Nanotools原子力显微镜探针

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原子力显微镜探针(SCANASYST-AIR-HR)

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原子力显微镜探针(FESP)

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原子力显微镜探针(DLCS-10)

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原子力显微镜探针(OBL-10)

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原子力显微镜探针(DNP-S10)

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原子力显微镜探针(LTESP)

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原子力显微镜探针(TESP-SS)

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原子力显微镜探针(MSNL-10)

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原子力显微镜探针(DDESP-10)

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原子力显微镜探针(SCM-PIT)

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原子力显微镜探针(SCM-PIC)

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原子力显微镜探针( SCM-PTMT-EX)

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样品探针 for 7697A

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JJF 1351-2012



标准号
JJF 1351-2012
发布日期
2012年06月18日
实施日期
2012年09月18日
废止日期
中国标准分类号
N32
发布单位
CN-JJF
引用标准
JJF 1001-2011 GB/T 19067.1-2003
适用范围
本规范适用于以几何表面形貌为测量对象的扫描探针显微镜的校准。 扫描探针显微镜根据其设计原理不同,校准时需要根据实际情况选择相关的计量特性。对有特殊要求的测量任务,如对溯源要求较高的测量,不在本校准规范的适用范围。

JJF 1351-2012 中可能用到的仪器设备





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