GB/T 30654-2014
Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法
Test method for lattice constant of Ⅲ-nitride epitaxial layers
GBT30654-2014, GB30654-2014
GB/T 30654-2014 发布历史
本标准规定了利用高分辨X射线衍射测试焉族氮化物外延片日格常数的方法。 本标准适用于在氧化物衬底(ALO:,ZnO等)或半导体衬底(GaN.Si.GaAs、SiC等)上外延生长的氮化物(Ga，in，ADN单层或多层异质外延片晶格常数的测量。 其他异质外延片晶格常数的测量也可参考本标准。 2 符号
GB/T 30654-2014由国家质检总局 CN-GB 发布于 2014-12-31，并于 2015-09-01 实施。
GB/T 30654-2014 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法，在国际标准分类中归属于: 77.040.20 金属材料无损检测。
GB/T 30654-2014的历代版本如下：
- 2014年 GB/T 30654-2014 Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法
