Zeit im Elektronenmikroskop

Für die Zeit im Elektronenmikroskop gibt es insgesamt 218 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Zeit im Elektronenmikroskop die folgenden Kategorien: Farben und Lacke, Einrichtungen im Gebäude, Längen- und Winkelmessungen, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Optische Ausrüstung, analytische Chemie, Film, Elektronische Geräte, Übertragungs- und Verteilungsnetze, Isoliermaterialien, Elektrische Geräte und Systeme für die Luft- und Raumfahrt, Nichteisenmetalle, Kernenergietechnik, Elektrotechnik umfassend, Drähte und Kabel, Feuer bekämpfen, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Luftqualität, Umwelttests, Verbindungselemente für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Straßenfahrzeuggerät, Plastik, Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV), Wasserqualität, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Kraftwerk umfassend, medizinische Ausrüstung, Rotierender Motor, Thermodynamik und Temperaturmessung.

HU-MSZT, Zeit im Elektronenmikroskop

MSZ 20586-1980 Symbol für Endoskop und Batterie bei der Arbeit

Association Francaise de Normalisation, Zeit im Elektronenmikroskop

NF T30-064:1999 Farben und Lacke. Bestimmung des Spiegelglanzes von nichtmetallischen Lackfilmen bei 20 Grad, 60 Grad und 85 Grad.
NF EN 14086:2003 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Glanz bei 45° mit parallelem Strahl, DIN-Methode
NF C44-104:1997 Statische Wechselstrom-Wattstundenzähler für Wirkenergie (Klassen 1 und 2).
NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
NF C32-073-2:1993 MESSUNG DER RAUCHDICHTE VON ELEKTROKABELN, DIE UNTER DEFINIERTEN BEDINGUNGEN BRENNEN. TEIL 2: TESTVERFAHREN UND ANFORDERUNGEN.
NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF X43-050:2021 Luftqualität – Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie – Indirekte Methode
NF X43-050:1996 Luftqualität. Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Indirekte Methode.
NF EN 13763-16:2004 Sprengstoffe für zivile Zwecke – Zünder und Relais – Teil 16: Bestimmung der Verzögerungsgenauigkeit
UTE C70-202:1995 Straßenausrüstung – Feste, permanente oder temporäre elektrische und elektronische Ausrüstung – Elektromagnetische Verträglichkeit Teil 2: Immunität.
NF C96-215-3*NF EN 62215-3:2014 Integrierte Schaltkreise – Messung der Impulsimmunität – Teil 3: Methode der nichtsynchronen transienten Injektion
NF C32-073-1:1993 MESSUNG DER RAUCHDICHTE VON ELEKTROKABELN, DIE UNTER DEFINIERTEN BEDINGUNGEN BRENNEN. TEIL 1: PRÜFGERÄTE.
NF C32-074-23:2000 Gemeinsame Prüfmethoden für Kabel unter Brandbedingungen – Prüfung auf Gas, das bei der Verbrennung von Kabelmaterialien entsteht – Teil 2-3: Verfahren – Bestimmung des Säuregrads von Gasen für Kabel durch Bestimmung des gewichteten Durchschnitts von pH-Wert und Leitfähigkeit
NF C91-004-11*NF EN 61000-4-11:2004 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Immunität bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen

International Electrotechnical Commission (IEC), Zeit im Elektronenmikroskop

IEC 60145:1963 Var-Stundenzähler (Blindenergiezähler).
IEC 60255-3/COR1:1992 Elektrische Relais; Teil 3: Einzeleingangs-Erregergrößen-Messrelais mit abhängiger oder unabhängiger Zeit; Berichtigung 1
IEC 60255-3:1989 Elektrische Relais; Teil 3: Einzeleingangs-Erregergrößen-Messrelais mit abhängiger oder unabhängiger Zeit
IEC 61036:1996 Statische Wechselstrom-Wattstundenzähler für Wirkenergie (Klassen 1 und 2)
IEC 61034-1:2005+AMD1:2013 CSV Messung der Rauchdichte von brennenden Kabeln unter definierten Bedingungen – Teil 1: Prüfgeräte
IEC 61034-1:2013 Messung der Rauchdichte von brennenden Kabeln unter definierten Bedingungen – Teil 1: Prüfgeräte
IEC 61034-1:2019 Messung der Rauchdichte von brennenden Kabeln unter definierten Bedingungen – Teil 1: Prüfgeräte
IEC 61036/AMD1:2000 Statische Wechselstrom-Wattstundenzähler für Wirkenergie (Klassen 1 und 2); Änderung 1
IEC 61224:1993 Kernreaktoren; Ansprechzeit in Widerstandstemperaturdetektoren (RTD); In-situ-Messungen
IEC TS 62215-2:2007 Integrierte Schaltkreise – Messung der Impulsimmunität – Teil 2: Synchrones transientes Injektionsverfahren
IEC 61034-2:2019 Messung der Rauchdichte von brennenden Kabeln unter definierten Bedingungen – Teil 2: Prüfverfahren und Anforderungen
IEC 61034-2:2005+AMD1:2013 CSV Messung der Rauchdichte von brennenden Kabeln unter definierten Bedingungen – Teil 2: Prüfverfahren und Anforderungen
IEC 60754-2:1991 Test auf Gase, die bei der Verbrennung von Elektrokabeln entstehen; Teil 2: Bestimmung des Säuregehalts von Gasen, die bei der Verbrennung von Materialien aus Elektrokabeln entstehen, durch Messung des pH-Werts und der Leitfähigkeit
IEC 62215-3:2013 Integrierte Schaltkreise – Messung der Impulsimmunität – Teil 3: Nichtsynchrones transientes Injektionsverfahren
IEC 60754-2/AMD1:1997 Prüfung von Gasen, die bei der Verbrennung von Elektrokabeln entstehen – Teil 2: Bestimmung des Säuregehalts von Gasen, die bei der Verbrennung von Materialien aus Elektrokabeln entstehen, durch Messung des pH-Werts und der Leitfähigkeit; Änderung 1
IEC 61000-4-11:2017 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Störfestigkeit bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen
IEC 61000-4-11:2004 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Störfestigkeit bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen
IEC 61000-4-11:2004+AMD1:2017 CSV Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Störfestigkeit bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Zeit im Elektronenmikroskop

SMPTE EG 35-1999 Zeit- und Steuercode, Zeitadresse, Taktpräzision für Fernsehen, Audio und Film
SMPTE EG 35-2012 Zeit- und Steuercode, Zeitadresse, Taktpräzision für Fernsehen, Audio und Film

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Zeit im Elektronenmikroskop

GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Nanometerbereich mittels REM
GB/T 14598.7-1995 Elektrische Relais. Teil 3: Einzeleingangs-Erregergrößen-Messrelais mit abhängiger oder unabhängiger Zeit
GB/T 14001-2012 Zeit- und Steuercode für die Aufnahme von SDTV-Videobändern
GB/T 22841-2008 Prüfspezifikation für die Immunität gegenüber Spannungseinbrüchen und Kurzzeitunterbrechungen von Industriemaschinen und elektrischen Geräten
GB/T 15633-1995 Einzelner Eingang zur Quantifizierung von Messrelais und Schutzgeräten mit nicht spezifizierter Zeit
GB/T 17626.11-1999 Elektromagnetische Verträglichkeit. Prüf- und Messtechniken. Spannungseinbrüche, kurze Unterbrechungen und Spannungsschwankungen-Immunitätstests
GB/T 17626.11-2008 Elektromagnetische Verträglichkeit. Prüf- und Messtechniken. Prüfung der Immunität gegen Spannungseinbrüche, kurze Unterbrechungen und Spannungsschwankungen
GB/T 14598.11-2011 Messrelais und Schutzausrüstung. Teil 11: Spannungseinbrüche, kurze Unterbrechungen, Schwankungen und Welligkeit am Hilfsstromversorgungsanschluss
GB/T 17626.29-2006 Elektromagnetische Verträglichkeit, Prüf- und Messtechniken, Spannungseinbrüche, kurze Unterbrechungen und Spannungsschwankungen bei Immunitätstests für DC-Eingangsstromanschlüsse

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Zeit im Elektronenmikroskop

SMPTE EG 35:1999 EG 35:1999 – SMPTE-Engineering-Richtlinie – Zeit- und Steuercode, Zeitadresse, Taktgenauigkeit für Fernsehen, Audio und Film
SMPTE EG 35:2012 EG 35:2012 – SMPTE-Engineering-Richtlinie – Zeit- und Steuercode, Zeitadresse, Taktgenauigkeit für Fernsehen, Audio und Film
EG 35:2012 EG 35:2012 – SMPTE-Engineering-Richtlinie – Zeit- und Steuercode, Zeitadresse, Taktgenauigkeit für Fernsehen, Audio und Film
SMPTE RP 2054:2010 RP 2054:2010 – Empfohlene SMPTE-Praxis – Methode zur Messung der wahrgenommenen Lautstärke von Kurzfilm-Audiomaterial
RP 2054:2010 RP 2054:2010 – Empfohlene SMPTE-Praxis – Methode zur Messung der wahrgenommenen Lautstärke von Kurzfilm-Audiomaterial

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Zeit im Elektronenmikroskop

KS D 8544-2016 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS D 8544-2006 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS D 8544-2016(2021) Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS C IEC 61224:2012 Kernreaktoren – Reaktionszeit bei Widerstandstemperaturdetektoren (RTD) – In-situ-Messungen
KS C IEC 61224-2012(2022) Kernreaktoren – Reaktionszeit bei Widerstandstemperaturdetektoren (RTD) – In-situ-Messungen
KS C IEC 61224-2012(2017) Kernreaktoren – Reaktionszeit bei Widerstandstemperaturdetektoren (RTD) – In-situ-Messungen
KS C 0272-1995 Elektromagnetische Verträglichkeit – Prüf- und Messtechniken – Immunität gegen Spannungseinbrüche, kurze Unterbrechungen und Spannungsschwankungen
KS C 0227-2001(2014) Grundlegende Umwelttestverfahren – Teil 2: Tests – Test Db und Anleitung: Feuchte Hitze, zyklisch (12+12-Stunden-Zyklus)
KS C IEC 61262-3-2003(2018) Medizinische elektrische Geräte – Eigenschaften elektrooptischer Röntgenbildverstärker – Teil 3: Bestimmung der Leuchtdichteverteilung und Leuchtdichteungleichmäßigkeit
KS C IEC 61000-4-11-2008(2013) Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Immunität bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen
KS C 9610-4-11-2020 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Spannungseinbrüche, kurze Unterbrechungen und Spannungsschwankungen-Immunitätsprüfungen
KS C IEC 61000-4-11:2008 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Immunität bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen
KS C 9610-4-11-2017 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Spannungseinbrüche, kurze Unterbrechungen und Spannungsschwankungen-Immunitätsprüfungen

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Zeit im Elektronenmikroskop

DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode

CZ-CSN, Zeit im Elektronenmikroskop

CSN 33 0331-1978 Elektrische Geräte für Spannungen bis 1000 V. Schutzart
CSN 34 6422-1961 Tests zur thermischen Alterung lackierter Drähte aufgrund der Abnahme der elektrischen Festigkeit des Lackfilms
CSN 34 6463-1983 Methoden zur Prüfung der elektrischen Festigkeit fester Isoliermaterialien bei Netzfrequenzen
CSN 34 7021-2-1995 Prüfung der Gase, die bei der Verbrennung von Elektrokabeln entstehen. Teil 2: Bestimmung des Säuregehalts der Gase, die bei der Verbrennung von Materialien aus Elektrokabeln entstehen, durch Messung des pH-Werts und der Leitfähigkeit
CSN 35 0019 Cast.09-1979 Rotierende elektrische Maschinen. Methoden zur Bestimmung des Temperaturanstiegs in Abhängigkeit von der Zeit bei blockiertem Rotor

British Standards Institution (BSI), Zeit im Elektronenmikroskop

BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS DD IEC/TS 62215-2:2007 Integrierte Schaltkreise – Messung der Impulsimmunität – Methode der synchronen transienten Injektion
BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
BS EN 61000-4-11:2004 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Prüf- und Messtechniken – Spannungseinbrüche, Kurzzeitunterbrechungen und Spannungsschwankungen – Immunitätsprüfungen
BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
18/30375050 DC BS ISO 14966. Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
BS EN 61000-4-11:2004+A1:2017 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV). Prüf- und Messtechniken. Spannungseinbrüche, kurze Unterbrechungen und Spannungsschwankungen-Immunitätstests
21/30404763 DC BS ISO 24639. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
BS EN 62215-3:2013 Integrierte Schaltkreise. Messung der Impulsimmunität. Nicht-synchrone transiente Injektionsmethode
BS EN 60754-2:2014 Test auf Gase, die bei der Verbrennung von Materialien aus Kabeln entstehen. Bestimmung des Säuregehalts (durch pH-Messung) und der Leitfähigkeit
BS EN 16866:2017 Metallische und andere anorganische Beschichtungen. Gleichzeitige Dicken- und Elektrodenpotentialbestimmung einzelner Schichten in mehrschichtigen Nickelablagerungen (STEP-Test)
BS EN ISO 16866:2022 Metallische und andere anorganische Beschichtungen. Gleichzeitige Dicken- und Elektrodenpotentialbestimmung einzelner Schichten in mehrschichtigen Nickelablagerungen (STEP-Test)

Professional Standard - Machinery, Zeit im Elektronenmikroskop

JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode
JB/T 9426.3-2011 Objektive für Filmkameras. Teil 3: Entfernungs- und Blendenskalenmarkierungen

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Zeit im Elektronenmikroskop

GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgrößenbestimmung Rasterelektronenmikroskopie
GJB 8684.23-2015 Prüfverfahren für pyrotechnische Eigenschaften – Teil 23: Bestimmung der Partikelgrößenverteilung von Rauchfeststoffpartikeln mittels Elektronenmikroskopie
GJB 8684.22-2015 Prüfverfahren für pyrotechnische Eigenschaften – Teil 22: Bestimmung der Anzahlkonzentration von Rauchfeststoffpartikeln mittels Elektronenmikroskopie

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Zeit im Elektronenmikroskop

JJG 691-1990 Überprüfungsregelung für mehrstufige Wechselstrom-Wattstundenzähler

SE-SIS, Zeit im Elektronenmikroskop

SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

European Committee for Standardization (CEN), Zeit im Elektronenmikroskop

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Zeit im Elektronenmikroskop

ECA 448-20-1989 Methode 20 Testmethode für elektromechanische Komponenten Testmethode für die Berührungstemperatur der Linsenoberfläche
ECA EIA-448-20-1989 Methode 20 Testmethode für elektromechanische Komponenten Testmethode für die Berührungstemperatur der Linsenoberfläche
ECA SP 5156-2007 Testverfahren für die Temperaturlebensdauer mit oder ohne elektrische Belastung für elektrische Steckverbinder und Steckdosen. Veröffentlichung als ANSI/EIA/ECA-364-17C

Danish Standards Foundation, Zeit im Elektronenmikroskop

DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/EN 61000-4-11:2004 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Störfestigkeit bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen

International Organization for Standardization (ISO), Zeit im Elektronenmikroskop

ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 21363:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 21727:2016/AWI Amd 1 Kinematographie – Methode zur Messung der wahrgenommenen Lautstärke von Kurzfilm-Audiomaterial – Änderung 1
ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode; Technische Berichtigung 1
ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse durch Elektronenenergieverlustspektroskopie

German Institute for Standardization, Zeit im Elektronenmikroskop

DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN EN 13763-16:2004-03 Sprengstoffe für zivile Zwecke – Zünder und Relais – Teil 16: Bestimmung der Verzögerungsgenauigkeit; Deutsche Fassung EN 13763-16:2003 / Hinweis: Wird durch DIN EN 13763-16 (2021-05) ersetzt.
DIN 41079:1974 Befestigung von Uhrwerken und Zifferblättern für elektrische Nebenuhren; Einbaumaße
DIN 15578-2:1978-07 Längenmessung von perforierten Kinofilmen und Magnetbändern; Tabellen mit Laufzeiten von 1 bis 60 s im Verhältnis zur Filmlänge
DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994
DIN EN 13763-16:2021-05 Sprengstoffe für zivile Zwecke – Zünder und Sprengschnurrelais – Teil 16: Bestimmung der Verzögerungsgenauigkeit; Deutsche und englische Fassung prEN 13763-16:2021 / Hinweis: Ausgabedatum 23.04.2021*Gedacht als Ersatz für DIN EN 13763-16 (2004-03).
DIN 43856:1989 Stromzähler, Tarifschaltuhren und Rundsteuerempfänger; Anschlusspläne, Klemmenbeschriftung, Schaltpläne
DIN 15578-3:1978-07 Längenmessung von perforierten Kinofilmen und Magnetbändern; Tabellen mit Laufzeiten von 1 bis 120 Minuten im Verhältnis zur Filmlänge
DIN 15578-2:1978 Längenmessung von perforierten Kinofilmen und Magnetbändern; Tabellen mit Laufzeiten von 1 bis 60 s im Verhältnis zur Filmlänge
DIN 15578-3:1978 Längenmessung von perforierten Kinofilmen und Magnetbändern; Tabellen mit Laufzeiten von 1 bis 120 Minuten im Verhältnis zur Filmlänge
DIN EN 61000-4-11:2005 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Spannungseinbrüche, Kurzzeitunterbrechungen und Spannungsschwankungen – Immunitätsprüfungen (IEC 61000-4-11:2004); Deutsche Fassung EN 61000-4-11:2004
DIN 43735:2011 Prozessleittechnik - Elektrische Temperatursensoren - Austauschbare Einsätze für RTDs und Thermoelemente

American Society for Testing and Materials (ASTM), Zeit im Elektronenmikroskop

ASTM D2219-97 Standardspezifikation für Poly(vinylchlorid)-Isolierung für Drähte und Kabel, 60176C-Betrieb
ASTM D2219-21 Standardspezifikation für Poly(vinylchlorid)-Isolierung für Drähte und Kabel, 60 °C-Betrieb
ASTM B979-12(2018) Standardspezifikation für die nicht spiegelnde (NS) Oberflächenbeschaffenheit von elektrischen Freileitern aus Aluminium
ASTM B979-12 Standardspezifikation für die nicht spiegelnde (NS) Oberflächenbeschaffenheit von elektrischen Freileitern aus Aluminium
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D6504-07 Standardverfahren zur Online-Bestimmung der Kationenleitfähigkeit in hochreinem Wasser
ASTM E423-71(2014) Standardtestmethode für normale spektrale Emission bei erhöhten Temperaturen nichtleitender Proben
ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B764-04(2021) Standardtestverfahren zur gleichzeitigen Dicken- und Elektrodenpotentialbestimmung einzelner Schichten in mehrschichtigen Nickelabscheidungen (STEP-Test)
ASTM B764-94 Standardtestmethode zur gleichzeitigen Dicken- und elektrochemischen Potenzialbestimmung einzelner Schichten in mehrschichtigen Nickelablagerungen (STEP-Test)
ASTM B764-94(2003) Standardtestmethode zur gleichzeitigen Dicken- und elektrochemischen Potenzialbestimmung einzelner Schichten in mehrschichtigen Nickelablagerungen (STEP-Test)
ASTM D6056-96(2011) Standardtestverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Transmissionselektronenmikroskopie

International Telecommunication Union (ITU), Zeit im Elektronenmikroskop

ITU-T R.50-1989 Zulässige Grenzen für den Grad der isochronen Verzerrung codeunabhängiger 50-Baud-Telegrafenschaltungen – Telegrafenübertragung (Studiengruppe IX) 1 S
ITU-T R.50-1988 ZULÄSSIGE GRENZEN FÜR DEN GRAD DER ISOCHRONEN CODEVERZERRUNG – UNABHÄNGIGE 50-BAUD-TELEGRAPHSCHALTUNGEN
ITU-T D.195-2006 Zeitrahmen für die Abrechnung von internationalen Telekommunikationsdiensten, Studiengruppe 3
ITU-T R.50 FRENCH-1988 ZULÄSSIGE GRENZEN FÜR DEN GRAD DER ISOCHRONEN CODEVERZERRUNG – UNABHÄNGIGE 50-BAUD-TELEGRAPHSCHALTUNGEN
ITU-T R.50 SPANISH-1988 ZULÄSSIGE GRENZEN FÜR DEN GRAD DER ISOCHRONEN CODEVERZERRUNG – UNABHÄNGIGE 50-BAUD-TELEGRAPHSCHALTUNGEN
ITU-T R.120-1989 Zulässige Grenzen für den Grad der isochronen Verzerrung codeunabhängiger Telegraphenschaltungen, die mit Modulationsraten von 75, 100 und 200 Baud arbeiten – Telegraphenübertragung (Studiengruppe IX) 1 S
ITU-T R.120-1988 ZULÄSSIGE GRENZEN FÜR DEN GRAD DER ISOCHRONEN VERZERRUNG VON CODEUNABHÄNGIGEN TELEGRAPHSCHALTUNGEN, DIE MIT MODULATIONSRATEN VON 75, 100 UND 200 BAUDS BETREIBEN
ITU-T Y.1365.1-2010 Präzisionszeitprotokoll-Telekommunikationsprofil für Frequenzsynchronisation, Studiengruppe 15
ITU-R QUESTION 111-17-1997 Signalverzögerungen in Antennen und anderen Schaltkreisen und deren Kalibrierung für eine hochgenaue Zeitübertragung
ITU-T R.111 FRENCH-1993 CODE- UND GESCHWINDIGKEITSUNABHÄNGIGES TDM-SYSTEM FÜR ANISOCHRONE TELEGRAPH- UND DATENÜBERTRAGUNG
ITU-T R.111 SPANISH-1993 CODE- UND GESCHWINDIGKEITSUNABHÄNGIGES TDM-SYSTEM FÜR ANISOCHRONE TELEGRAPH- UND DATENÜBERTRAGUNG

Society of Automotive Engineers (SAE), Zeit im Elektronenmikroskop

SAE AS4851A-2005 Relative thermische Lebensdauer und Temperaturindex für isolierte elektrische Drähte
SAE ARP5107B-2006 Richtlinien für die Time-Limited-Dispatch-Analyse (TLD) für elektronische Motorsteuerungssysteme
SAE J1647-1995 Kunststoffmaterialien und Beschichtungen zur Verwendung in oder auf optischen Teilen wie Linsen und Reflektoren von Vorwärtsbeleuchtungsgeräten mit hoher Entladung, die in Kraftfahrzeugen verwendet werden, empfohlene Praxis März 1995

YU-JUS, Zeit im Elektronenmikroskop

JUS N.N6.188-1984 Funkkommunikation. Kabelgebundene Verteilung und CATV-Systeme. Messmethoden. Chrominanz – Luminanzverstärkung und Verzögerungsungleichheiten

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Zeit im Elektronenmikroskop

GB/T 38783-2020 Methode zur Schichtdickenbestimmung für Edelmetallverbundwerkstoffe mittels Rasterelektronenmikroskop

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Zeit im Elektronenmikroskop

DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen

ES-UNE, Zeit im Elektronenmikroskop

UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)

Professional Standard - Energy, Zeit im Elektronenmikroskop

NB/T 20338-2015 In-situ-Messungen der Ansprechzeit von Widerstandstemperaturdetektoren, die für die Sicherheit in Kernkraftwerken wichtig sind
DL/T 2247.3-2021 Dispatching-Betriebsmanagement eines elektrochemischen Energiespeicherkraftwerks Teil 3: Echtzeitüberwachung und -steuerung auf der Dispatching-Seite

PH-BPS, Zeit im Elektronenmikroskop

PNS ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Zeit im Elektronenmikroskop

IPC TR-585 CD-2006 Time@ Temperature and Humidity Stress of Final Board Finish Solderability

BR-ABNT, Zeit im Elektronenmikroskop

ABNT EB-360-1973 Kabel und Leitungen mit Aluminiumleitern, Polyethylen ummantelt für Temperaturen bis 75°C

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Zeit im Elektronenmikroskop

GJB 5891.6-2006 Prüfverfahren zum Laden von Material zur Zündung von Sprengkörpern Teil 6: Messung der Korngröße Rasterelektronenmikroskopie
GJB 5384.23-2005 Leistungstestverfahren für pyrotechnische Zusammensetzungen Teil 23: Bestimmung der Partikelgrößenverteilung für feste Rauchpartikel Elektronenmikroskopische Methode
GJB 5384.22-2005 Leistungstestverfahren für pyrotechnische Zusammensetzungen Teil 21: Konzentrationsbestimmung der Mengen fester Rauchpartikel Elektronenmikroskopische Methode

AENOR, Zeit im Elektronenmikroskop

UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
UNE 40292-1:1975 TEXTILE BESCHICHTUNGEN VON BÖDEN. Die Bestimmung der Dicke verliert nach längerer Anwendung einer hohen Statik.
UNE-EN 61000-4-11:2005/A1:2017 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Störfestigkeit bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen
UNE-EN 61000-4-11:2005 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfungen der Immunität bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen

Lithuanian Standards Office , Zeit im Elektronenmikroskop

LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

RU-GOST R, Zeit im Elektronenmikroskop

GOST 30501-1997 Feste elektrische Isoliermaterialien. Verfahren zur Messung des elektrischen Widerstands und des spezifischen Widerstands bei erhöhten Temperaturen
GOST R IEC 811-5-1-1995 Spezifische Prüfmethoden für Füllmassen von Elektrokabeln. Absetzpunkt. Ölabscheidung. Sprödigkeit bei geringerer Temperatur. Gesamtsäurezahl. Keine korrosiven Bestandteile. Permittivität bei einer Temperatur von 23 °C, spezifischer CDc-Widerstand bei einer Temperatur von 23 °C und 1
GOST 23089.10-1983 Integrierte Schaltkreise. Methode zur Messung der maximalen Aufbaurate und -zeit der Ausgangsspannung des Operationsverstärkers
GOST 30804.4.11-2013 Elektromagnetische Verträglichkeit technischer Geräte. Immunität gegen Spannungseinbrüche, kurze Unterbrechungen und Spannungsschwankungen. Anforderungen und Testmethoden
GOST IEC 60754-2-2011 Tests von Materialien aus Kabeln während der Verbrennung. Bestimmung des Säuregehalts der entwickelten Gase durch Messung des pH-Werts und der Leitfähigkeit

Professional Standard - Electron, Zeit im Elektronenmikroskop

SJ/T 11042-1996 Testmethode für die Temperatur (Tk-100) von elektronischem Glas mit einem Volumenwiderstand von 100 MΩ·cm

KR-KS, Zeit im Elektronenmikroskop

KS A ISO 21727-2018(2023) Kinematographie – Methode zur Messung der wahrgenommenen Lautstärke von kurzzeitigem Film-Audiomaterial

AT-ON, Zeit im Elektronenmikroskop

OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

ECIA - Electronic Components Industry Association, Zeit im Elektronenmikroskop

EIA-448-20-1989 Methode 20 Testmethode für elektromechanische Komponenten Testmethode für die Berührungstemperatur der Linsenoberfläche

SAE - SAE International, Zeit im Elektronenmikroskop

SAE ARP5107A-2005 Richtlinien für die Time-Limited-Dispatch-Analyse (TLD) für elektronische Motorsteuerungssysteme
SAE ARP5107-1997 Richtlinien für die Time-Limited-Dispatch-Analyse (TLD) für elektronische Motorsteuerungssysteme
SAE ARP5107C-2018 Guidelines for Time-Limited-Dispatch (TLD) Analysis for Electronic Engine Control Systems

BE-NBN, Zeit im Elektronenmikroskop

NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Zeit im Elektronenmikroskop

CNS 12565-1989 Grundlegende Umwelttestverfahren Teil 2: Tests, Test Db: Feuchte Hitze, Zyklus (12+12-Stunden-Zyklus)

未注明发布机构, Zeit im Elektronenmikroskop

BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips
DIN EN 13763-16 E:2021-05 Sprengstoffe für zivile Zwecke – Zünder und Sprengschnurrelais – Teil 16: Bestimmung der Verzögerungsgenauigkeit
DIN 43735 E:2000-12 Prozessleittechnik - Elektrische Temperatursensoren - Austauschbare Einsätze für RTDs und Thermoelemente
DIN VDE 0260-264-2:2003 Kabel und Leitungen für Schienenfahrzeuge mit verbessertem Verhalten im Brandfall – Standard-Isolierwandstärken Teil 2: Einadrige Kabel

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Zeit im Elektronenmikroskop

JEDEC JESD202-2006 Methode zur Charakterisierung der Elektromigrations-Ausfallzeitverteilung von Verbindungen unter konstanter Strom- und Temperaturbelastung

American National Standards Institute （ANSI), Zeit im Elektronenmikroskop

ANSI/ASTM D6059:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
ANSI/ASTM D6056:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ANSI/ASTM D2520:2013 Neue Standardtestmethoden für die Dielektrizitätskonstante der komplexen Permittivität fester elektrischer Isoliermaterialien bei Mikrowellenfrequenzen und Temperaturen von 1650 °C

Underwriters Laboratories (UL), Zeit im Elektronenmikroskop

UL 1666-2000 Prüfung der Flammenausbreitungshöhe von vertikal in Schächten verlegten Elektro- und Glasfaserkabeln
UL 1666-1991 Prüfung der Flammenausbreitungshöhe von vertikal in Schächten verlegten Elektro- und Glasfaserkabeln

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Zeit im Elektronenmikroskop

QUESTION 111-1/7-1997 Signalverzögerungen in Antennen und anderen Schaltkreisen und deren Kalibrierung für eine hochgenaue Zeitübertragung

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Zeit im Elektronenmikroskop

PQC 74-1987 Hochfrequenzkabel für den Einsatz in elektrotechnischen Geräten: Blanko-Detailspezifikation: Flexible Hochfrequenzkabel für den Betrieb bei einer maximalen Innenleitertemperatur von 85 Grad C, Bewertungsstufe U

Defense Logistics Agency, Zeit im Elektronenmikroskop

DLA SMD-5962-88598 REV A-1990 MIKROKREISE, DIGITAL, BIPOLARER UHRGENERATOR/MIKROZYKLUS-LÄNGENREGLER, MONOLITHISCHES SILIKON

Professional Standard - Electricity, Zeit im Elektronenmikroskop

DL/T 1709.4-2017 Technische Spezifikation des Smart-Grid-Dispatching-Steuerungssystems Teil 4: Echtzeitüberwachung und Frühwarnung

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, Zeit im Elektronenmikroskop

DB52/T 733-2011 Technische Spezifikationen für den Bau eines Echtzeit-Fernüberwachungssystems für energiesparende Stromerzeugung, Disposition und Entschwefelung in der Provinz Guizhou

Canadian Standards Association (CSA), Zeit im Elektronenmikroskop

CSA IEC 61000-2-8:04-CAN/CSA:2004 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) Teil 2-8: Umwelt Spannungseinbrüche und Kurzzeitunterbrechungen in öffentlichen Stromversorgungsnetzen mit statistischen Messergebnissen Erstausgabe

Indonesia Standards, Zeit im Elektronenmikroskop

SNI 04-0918.15-2001 Rotierende elektrische Maschinen - Teil 15: Impulsspannung mit Ständerebene rotierender Wechselstrommaschinen mit abgewickelten Statorspulen
SNI IEC 61000-4-11:2013 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Störfestigkeit bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen

CN-Q/GDW, Zeit im Elektronenmikroskop

Q/GDW 680.46-2011 System zur Unterstützung des Smart-Grid-Betriebs. Teil 4-6: Echtzeit-Überwachungssteuerung und Frühwarn-Dispatcher-Schulungssimulator

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Zeit im Elektronenmikroskop

EN 61000-4-11:1994 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) Teil 4: Prüf- und Messtechniken Abschnitt 11: Spannungseinbrüche bei kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen Immunitätsprüfungen

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Zeit im Elektronenmikroskop

JIS C 61000-4-11:2008 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfungen der Störfestigkeit bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen

ZA-SANS, Zeit im Elektronenmikroskop

SANS 61000-4-11:2005 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) Teil 4-11: Prüf- und Messtechniken – Prüfungen der Störfestigkeit bei Spannungseinbrüchen, kurzen Unterbrechungen und Spannungsschwankungen

Professional Standard - Postal Service, Zeit im Elektronenmikroskop

YZ/T 0066-2002 Elektromagnetische Verträglichkeit kleiner Postprodukte – Immunitätstestanforderungen für elektrostatische Entladung, elektrische schnelle transiente Bursts, Spannungseinbrüche und kurze Unterbrechungen

RO-ASRO, Zeit im Elektronenmikroskop

STAS 11232/5-1981 Stabilisierte Netzteile, Gleichstromausgang. TEMPERATUREFFEKT, MESSUNG DER TRANSIENTEN LEISTUNG, EINSETZUNGSEFFEKTE. Rezept