ZH
EN
ES

полупроводниковый тест

полупроводниковый тест, Всего: 43 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к полупроводниковый тест, являются: Механические конструкции электронного оборудования, Технические рисунки, Полупроводниковые приборы, Словари, Полупроводниковые материалы, Неорганические химикаты, Выпрямители. Конвертеры. Стабилизированный источник питания.

German Institute for Standardization, полупроводниковый тест

DIN EN 60191-6-16:2007 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 6-16: Глоссарий испытаний полупроводников и розеток для обжига для BGA, LGA, FBGA и FLGA (IEC 60191-6-16:2007); Немецкая версия EN 60191-6-16:2007.
DIN 50441-5:2001 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение геометрических размеров полупроводниковых пластин. Часть 5. Условия отклонения формы и плоскостности.
DIN 50441-1:1996 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение геометрических размеров полупроводниковых пластин. Часть 1. Толщина и изменение толщины.
DIN 50441-2:1998 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение геометрических размеров полупроводниковых пластин. Часть 2. Испытание краевого профиля.
DIN 50453-3:2001 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение скорости травления травильных смесей. Часть 3. Алюминий, гравиметрический метод.
DIN 50435:1988 Испытание полупроводниковых материалов; определение изменения радиального удельного сопротивления пластинок кремния или германия четырехзондовым методом постоянного тока
DIN EN 60749-38:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкие ошибки для полупроводниковых приборов с памятью (IEC 60749-38:2008); Немецкая версия EN 60749-38:2008.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, полупроводниковый тест

EN 60191-6-16:2007 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 6-16: Глоссарий испытаний полупроводников и розеток для обжига для BGA, LGA, FBGA и FLGA.
EN 60749-38:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкие погрешности полупроводниковых приборов с памятью.

International Electrotechnical Commission (IEC), полупроводниковый тест

IEC 60191-6-16:2007 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 6-16: Глоссарий испытаний полупроводников и розеток для обжига для BGA, LGA, FBGA и FLGA.
IEC 60700:1981 Испытание полупроводниковых ламп для передачи энергии постоянного тока высокого напряжения
IEC 60749-38:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкие погрешности полупроводниковых приборов с памятью.
IEC 60749:1984 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
IEC 60749:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний

HU-MSZT, полупроводниковый тест

MSZ 700/36.lap-1961 Испытание полупроводников в угольной шахте

Association Francaise de Normalisation, полупроводниковый тест

NF C96-013-6-16*NF EN 60191-6-16:2013 Механическая стандартизация полупроводниковых устройств. Часть 6-16: глоссарий по тестированию полупроводников и розеткам для обжига для BGA, LGA, FBGA и FLGA.
NF C96-022-38*NF EN 60749-38:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкие погрешности полупроводниковых приборов с памятью.

Defense Logistics Agency, полупроводниковый тест

DLA MIL-STD-750 E-2006 СТАНДАРТ МЕТОДА ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), полупроводниковый тест

KS M 1804-2008 Метод испытания плавиковой кислоты для полупроводников
KS C 6049-1980 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность полупроводниковых интегральных схем
KS C 6565-2022 Методы испытаний полупроводниковых датчиков ускорения
KS C IEC 60749:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний.
KS C IEC 60749-2004(2020) Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, полупроводниковый тест

GJB 128-1986 Спецификация аэрофотосъемки для военного топографического картографирования
GJB 128B-2021 Методы испытаний полупроводниковых дискретных устройств

KR-KS, полупроводниковый тест

KS M 1804-2008(2023) Метод испытания плавиковой кислоты для полупроводников

未注明发布机构, полупроводниковый тест

GJB 128A-1997 Методы испытаний полупроводниковых дискретных устройств

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, полупроводниковый тест

GB/T 13422-2013 Полупроводниковые преобразователи. Методы электрических испытаний.
GB/T 4937-1995 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов
GB/T 13422-1992 Силовые полупроводниковые преобразователи. Методы электрических испытаний.

Professional Standard - Electron, полупроводниковый тест

SJ 20079-1992 Методы испытаний газовых сенсоров металлооксидных полупроводников
SJ/Z 9016-1987 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний.

CZ-CSN, полупроводниковый тест

CSN 35 1609-1983 Силовые полупроводниковые приборы. Теплоотводы. Методика тестирования

RU-GOST R, полупроводниковый тест

GOST 24461-1980 Силовые полупроводниковые приборы. Методы испытаний и измерений
GOST 26567-1985 Полупроводниковые преобразователи энергии. Методы испытаний
GOST 28578-1990 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний

YU-JUS, полупроводниковый тест

JUS N.R1.500-1980 Полупроводниковые устройства. Принятие. Электрические испытания

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), полупроводниковый тест

JIS C 7033:1975 Методы испытаний полупроводниковых выпрямительных диодов

British Standards Institution (BSI), полупроводниковый тест

BS EN 60749-38:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкие погрешности полупроводниковых приборов с памятью.
BS EN 62416:2010 Полупроводниковые приборы. Испытание горячих носителей МОП-транзисторов
BS EN 60749:1999 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), полупроводниковый тест

IEEE 857-1990 Руководство по процедурам испытаний тиристорных клапанов постоянного тока высокого напряжения

Group Standards of the People's Republic of China, полупроводниковый тест

T/CIE 144-2022 Метод испытаний повышения надежности полупроводниковых приборов