CAMECA KLEORA地质年代研究专用离子探针
tel: 400-6699-117 转 1000CAMECA二次离子质谱/离子探针, KLEORA在新一代超高灵敏度大尺寸几何结构IMS 1300-HR³离子探针基础上开发而成,在高通量、易于使用的平台上为......
在线客服
产品型号:KLEORA
品牌:CAMECA
产品产地:法国
产品类型:进口
原制造商:CAMECA
状态:在售
厂商指导价格: 3000~4000万元[人民币]
上市时间: 2014-02-04
英文名称:KLEORA The Specialized Ion Microprobe for World-leading Research in Geochronology
优点:KLEORA在新一代超高灵敏度大尺寸几何结构IMS 1300-HR³离子探针基础上开发而成,在高通量、易于使用的平台上为原位U-Th-Pb同位素分析提供基准灵敏度。
参考成交价格: 3000~4000万元[人民币]
仪器导购
二次离子质谱/离子探针
其他推荐
厂家资料
地址:北京酒仙桥京东方大厦2层西侧
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 CAMECA KLEORA地质年代研究专用离子探针 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
- GB/T 20176-2006 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
- GJB 5426.10-2006 国防科技工业物资分类与代码 第10部分:仪器仪表
- JJF 1031-1992 依法管理的物理化学计量器具分类规范
- GB/T 42212-2022 纳米材料 物质安全技术说明书(MSDS)的建立
- BS ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱.飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准
- GB/T 40129-2021 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准
- ISO 13084:2018 表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 用于飞行时间二次离子质谱仪的质谱的校准
- GB/T 39261-2020 纳米技术 纳米材料毒理学评价前理化性质表征指南
- GJB 7363-2011 空间等离子体环境效应动态试验方法