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地质勘测研究先进技术及其应用概述(三)

2020.4.20

四、X-Trace LIBS遥测分析系统

X-Trace LIBS元素遥测分析系统由欧洲工程技术中心(CEITEC)研制生产,用于岩矿、材料、塑料、土壤及植物等的元素分析和元素分布2D成像,可广泛应用于地质科学、材料科学、土壤科学、生物科学、环境科学、考古学、生物医学等领域样品分析。系统主要由移动平台(Transport module)、遥测模块(Stand-off detection module)和手持光纤探头(Fiber optic module with hand probe)等组成,移动平台集成有光谱仪、检测器、控制系统、光机结构等,遥测模块内置脉冲激光发射器和聚焦系统及等离子体光谱采集系统等。整机采用模块式结构,可根据不同的需求应用灵活组合,具备强大的扩展性能。

主要技术特点;

  • Stand-off LIBS 与Remote LIBSZL技术,原位非接触测量分析,遥测距离可达20m

  • 模块式结构组成,配置高度灵活、系统高度可扩展,扩展升级不必要返厂,在实验室即可就地升级扩展

  • 移动平台方便操作、移动等

  • 高端LIBS系统,可适用于环境监测(土壤污染、微粒或沉积分析、突发事件检测等)、岩矿分析、塑料等各种材料分析、土壤分析、植物分析、痕迹溯源追踪分析、法医与生物医学检测(牙齿、骨骼、毛发等)、考古学检测等各种应用

  • 遥测模块可远距离(可达20m)原位非接触激光脉冲聚焦冲蚀遥测,或手持光纤探头原位激光脉冲聚焦冲蚀测量

  • 高端全光谱Echelle光谱仪及iCCD光谱检测器,高稳定性、高精确度、高灵敏度,每次可检测分析所有波段光谱;如特别需要,可选配Czerny Turner光谱仪及相应iCCD光谱检测器以进一步达到更低的检测极限(参见下表,检测极限很大程度上与样品本身有关,如植物中的C、N一般很难达到表中的检测极限),但这类超高灵敏度检测系统每次能检测的波段数量有限——这意味着每次可分析的元素种类有限

  • 可分析元素周期表中所有元素,检测极限可达0.1ppm甚至更低;可选配Echelle全光谱检测系统或超高灵敏度Czerny Turner检测系统

  • CEITEC专家团队提供技术支持,随时提供最佳最优的LIBS方案,并愿意合作进行应用研究和发表论文。

 

五、易科泰SPECIM高光谱成像技术

Specim高光谱扫描技术广泛应用于地质科学及矿产资源勘测,成为地质矿产高光谱成像分析的领导者。在此主要介绍广被采用的完整系统SisuSCS、SisuROCK和SisuCHEMA。易科泰生态技术公司可以根据需求制定不同的选配方案。

 

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1、SisuSCS高光谱单样芯扫描平台(Situ Single Core Scanner)

SituSCS适于对单个岩矿样芯或湖泊沉积样芯进行高光谱扫描成像分析,可选配400-1000nmVNIR传感器或1000-2500SWIR传感器,整机重量约重100kg,适合于样芯量不大的实验室进行高光谱分析。

 

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SisuSCS高光谱样芯扫描分析可以快速、无损伤、非接触、高分辨率获取岩石样芯或沉积样芯的光谱反射特征,可以提供其它样芯分析技术所不能提供的物质组成与时空分布大数据信息。


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