BS ISO 21222:2020
表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
Surface chemical analysis. Scanning probe microscopy. Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
- 标准号
- BS ISO 21222:2020
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS ISO 21222:2020
- 适用范围
- ISO 21222 是什么？ ISO 21222 是一项讨论扫描探针显微镜表面化学分析的国际标准。 ISO 21222 描述了使用原子力显微镜 (AFM) 测定投诉材料的弹性模量的程序。根据 ISO 21222，测量顺应性材料表面上的力-距离曲线，并使用基于 Johnson-Kendall-Roberts (JKR) 理论的两点法进行分析。 ISO 21222 适用于弹性模量范围为 100 kPa 至 1 GPa 的投诉材料。空间分辨率取决于 AFM 探针与表面之间的接触半径，通常约为 10-20 nm。
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