砷化镓抛光片亚损伤层的X射线双晶衍射试验方法, 您可以免费下载预览页
实验采用了宽25 fs、波长32 nm,功率密度达4×1013W/cm2的软 X射线,激光通过刻有图案的氮化硅薄膜并在 CCD 探测器上成像。研究人员成功地得到了样品损伤前和损伤后成像的数据,并展示了样品受到辐射损伤的情况。图2 FLASH X射线相干衍射实验和辐射损伤效应 (a)试验装置示意图;(b)飞秒脉冲的相干衍射成像图。...
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