DIN EN IEC 63287-1:2020-06
半导体器件 通用半导体鉴定指南 第1部分：LSI 可靠性鉴定指南
Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for LSI reliability qualification (IEC 47/2614/CDV:2020); German and English version prEN IEC 63287-1:2020 / Note: Date of issue 2020-05-08*Intended as replacem...
- 标准号
- DIN EN IEC 63287-1:2020-06
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN IEC 63287-1:2023-09
- 当前最新
- DIN EN IEC 63287-1:2023-09
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