EN IEC 63287-1:2021
半导体器件 通用半导体鉴定指南 第1部分：IC 可靠性鉴定指南

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification

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标准号

EN IEC 63287-1:2021

发布

2021年

发布单位

欧洲电工标准化委员会

当前最新

EN IEC 63287-1:2021

 

 

适用范围

IEC 63287-1:2021 给出了半导体集成电路产品可靠性鉴定计划的指南。本文档不适用于军事和太空相关应用。注 1：制造商可以通过基于 EDR-4708、AEC Q100、JESD47 或其他相关文件（如果有指定）的指南改编，使用灵活的样本量来降低成本并保持合理的可靠性。注2：本文件中使用的威布尔分布方法是计算给定可靠性项目的适当样本量和测试条件的几种方法之一。 IEC 63287-1 第一版取消并取代了 2017 年发布的 IEC 60749-43 第一版。该版本构成技术修订版。与前一版本相比，此版本包括以下重大技术更改：该文件已重命名并重新编号，以区别于 IEC 60749（所有部分）；增加了一个关于"家庭"概念的新章节，并对现有案文进行了适当的重新编号。

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