IEC 62416:2010
半导体器件 - Mos晶体管上的热载体测试
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
IEC 62416:2010 发布历史
IEC 62416:2010由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2010-04-26，并于 2010-04-28 实施。
IEC 62416:2010在国际标准分类中归属于: 31.080 半导体分立器件。
IEC 62416:2010的历代版本如下：
- 2010年 IEC 62416:2010 半导体器件 - Mos晶体管上的热载体测试
This standard describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.
