BH GSO ISO 29081:2016
表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和电荷校正方法的报告

Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Reporting of methods used for charge control and charge correction


说明:

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用;
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号;
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小;
  • 表示标准的节点,可以拖动;
  • 绿色表示标准:BH GSO ISO 29081:2016 , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准;
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
标准号
BH GSO ISO 29081:2016
发布单位
GSO
当前最新
BH GSO ISO 29081:2016
 
 

BH GSO ISO 29081:2016相似标准


推荐

微纳尺度表征电子新技术

采用第一性原理计算方法,模拟GaNZnO基半导体不同物理条件下理论价带;通过实验测量相关半导体电子,分别建立材料应力、电荷及电场分布、结构导电类型等宏观参量微纳尺度测量技术。主要取得如下研究成果:提出电子广义位移概念,把所有导致电子动能位移及其峰相对强度改变因素(包括化学、物理等)都统一起来。建立了材料微纳米尺度宏观特性电子谱表征新技术。...

表面分析(四)

表面分析方法表面分析方法有数十种,常用有离子探针、电子谱分析X射线光电子谱分析,其次还有离子中和、离子散射、低能电子衍射、电子能量损失、紫外线电子等技术,以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析,又称离子探针显微分析。...

表面分析分析方法

表面分析方法有数十种,常用有离子探针、电子谱分析X射线光电子谱分析,其次还有离子中和、离子散射、低能电子衍射、电子能量损失、紫外线电子等技术,以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析,又称离子探针显微分析。...

表面分析技术特征比较

表面分析方法有数十种,常用有离子探针、电子谱分析X射线光电子谱分析,其次还有离子中和、离子散射、低能电子衍射、电子能量损失、紫外线电子等技术,以及场离子显微镜分析等。离子探针分析离子探针分析,又称离子探针显微分析。...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号