内容简介:本书是现代X射线光谱分析综合性参考书。全书系统介绍了X射线的物理基础、基本性质、激发、色散、探测与测量、波长色散与能量色散光谱仪、基体效应、光谱背景和谱线重叠、样品制备、定性与半定量分析、实验校正法、数学校正法定量分析、薄膜和镀层厚度分析、应用实例及分析误差与不确定度等内容。附录列举了X射线荧光光谱分析常用的物理常数,相关数据等,供读者参考使用。...
答:颗粒物的仪器分析条件中的元素特征谱线,X 射线管电压和电流、分光晶体和探测器与土壤仪器分析条件基本上是一致的,特征波长相对应2θ角及背景点、脉冲高度分布(PHA 或PHD)、准直器略有不同,可根据薄膜标准样品或实际颗粒物样品扫描结果进行调整。颗粒物和土壤的XRF分析的区别中很重要的一点是颗粒物分析忽略了基体效应,而土壤的标准曲线的建立时需要对基体进行较正。3、滤膜全消解较难实现,该怎么办?...
新一代Aeris,还可配置掠入射薄膜分析功能模块。圆晶分析仪点击图片下载产品手册2830ZT 2830ZT波长色散X射线荧光圆晶分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。针对半导体和数据存储行业而设计,专门配备了具有突破性的ZETA技术X射线管,和多层膜分析软件FP Multi,FALMO-2G可集成到任意实验室或晶圆厂,该仪器可为多种晶片(厚达300mm)测定层结构、厚度、掺杂都和表面均匀性。...
与常规X光相比,同步辐射光波长在大范围内连续可调,且准直性好,研究的尺度范围和 分辨均优于常规X光。图 SAXS实验过程应用5:同辐射X射线反射(XRR)XRR是一种很好的非损伤性研究薄膜的工具,基于表面和界面的全反射,能够得到以下信息:样品表面的电子密度深度剖面图 、薄膜厚度 、表面和界面粗糙度 、单层薄膜、多层薄膜的密度等信息。能够应用到非晶、晶体和液体。...
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