IEC 60333:1993
核仪器 半导体带电粒子探测器 试验程序
Nuclear instrumentation; semiconductor charged-particle detectors; test procedures
- 标准号
- IEC 60333:1993
- 发布
- 1993年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60333:1993
- 适用范围
- 所述测试的目的是为用于带电粒子检测和高分辨率光谱的半导体探测器建立标准测试程序。最好保持标准测试程序，以便测量人员
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