找不到引用KS D 0260-1989(1994) 具有四点探针的单晶硅片的电阻率测试方法 的标准
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3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值；同样，当四探针头1、3探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、3探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、4探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。 ...
四探针电阻率又名方阻测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗四探针电阻率方阻测试仪单晶、硅片)电阻率，以及扩散层、外延层、 ITO 导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。 超高阻双电四探针测试仪是宁波江北瑞柯伟业仪器有限公司研发的产品，目前已被多家企业咨询，预定，购买。...
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