EN IEC 63287-1:2021
半导体器件 通用半导体鉴定指南 第1部分：IC 可靠性鉴定指南

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification


 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 EN IEC 63287-1:2021 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

 

标准号
EN IEC 63287-1:2021
发布
2021年
发布单位
欧洲电工标准化委员会
当前最新
EN IEC 63287-1:2021
 
 
IEC 63287-1:2021 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products. This document is not intended for military- and space-related ap...

EN IEC 63287-1:2021相似标准

DS/EN IEC 63287-1:2021 半导体器件《通用半导体鉴定指南》第1部分：IC 可靠性鉴定指南 PNS IEC 60749-43:2021 半导体器件.机械和气候试验方法.第43部分：IC可靠性鉴定计划指南 EN 60749-43:2017 半导体器件 机械和气候测试方法 第43部分：IC 可靠性鉴定计划指南 IEC 63287-2:2023 半导体器件 可靠性鉴定计划指南 第2部分：任务概况的概念 BS EN IEC 63287-2:2023 半导体器件 可靠性鉴定计划指南任务概况概念（英国标准）

推荐

史上最全可靠性试验标准，384项，不仅包括中国标准

.第03-02部分:可靠性.指定无源光学元件大功率传输试验报告IEC 61747-5-3 Corrigendum 1-2011 液晶显示装置.第5-3部分:环境、耐久性和机械试验方法.玻璃强度和可靠性.勘误表1IEC 60749-30 Edition 1.1-2011 半导体器件的机械和环境试验.第30部分:非密封表面安装设备可靠性测试前的预处理IEC 60749-30 AMD 1-2011 半导体器件...


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号