IEC 60749-4:2002/COR1:2003
Dispositifs A Semiconducteurs - Methodes D'essais Mecaniques et Climatiques - Partie 4: Essai Continu Fortement Accelere De Contrainte De Chaleur Humide (HAST) CORRIGENDUM 1 (Edition 1.0)

Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat@ Steady State@ Highly Accelerated Stress Test (HAST) CORRIGENDUM 1 (Edition 1.0)

被代替

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 IEC 60749-4:2002/COR1:2003 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

IEC 60749-4:2002/COR1:2003

发布

2003年

发布单位

IEC - International Electrotechnical Commission

替代标准

IEC 60749-4:2017

当前最新

IEC 60749-4:2017

 

 

IEC 60749-4:2002/COR1:2003相似标准