GB/T 1552-1995
硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon and germanium with a collinear four-probe array
GBT1552-1995, GB1552-1995
GB/T 1552-1995 发布历史
GB/T 1552-1995由国家质检总局 CN-GB 发布于 1995-04-18，并于 1995-12-01 实施，于 2010-06-01 废止。
GB/T 1552-1995 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法，在国际标准分类中归属于: 77.040.30 金属材料化学分析。
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 1551-2021 。
GB/T 1552-1995的历代版本如下：
- 2021年 GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
- 2009年 GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法
- 1995年 GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 于 2009-10-30 变更为 GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法。
本标准规定了用直排四探针测量硅、锗单晶电阻率的方法。 本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于控针间距的4倍的硅、锗单晶的体电阻率以及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于控针间距4倍的硅、锗单晶圆片（简称圆片）的电阻率。测量范围为硅：1×10～3×10Ω·cm，锗：1×10、1×10Ω·cm。
- 标准号
- GB/T 1552-1995
- 别名
- GBT1552-1995
GB1552-1995 - 发布
- 1995年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 1551-2009
- 当前最新
- GB/T 1551-2021
GB/T 1552-1995相似标准
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