GB/T 1551-1995
硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
Test method for resistivity of silicon and germanium bars using a two-point probe
GBT1551-1995, GB1551-1995
2010-06
- 标准号
- GB/T 1551-1995
- 别名
- GBT1551-1995, GB1551-1995
- 发布
- 1995年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 替代标准
- GB/T 1551-2009
- 当前最新
- GB/T 1551-2021
- 适用范围
- 本标准规定了用直流两探针测量硅和锗单晶锭电阻率的方法。 本标准适用于测量截面积均匀的圆形、方形或矩形单晶锭的电阻率。测量范围：硅单晶为10-3～104Ω·cm,锗单晶为5×10-4～102Ω·cm。试样长度与截面最大尺寸之比应不小于3：1
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