DIN 50433-2-1976
无机半导体材料的检验.第2部分:采用反射光影法测定单晶体取向

Testing of semi-conducting inorganic materials; determining the orientation of single crystals by means of optical reflection figure

标准号

DIN 50433-2-1976

发布日期

1976年12月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

H82

国际标准分类号

29.045

发布单位

DE-DIN

适用范围

Testing of semi-conducting inorganic materials; determining the orientation of single crystals by means of optical reflection figureEssai des matériaux semi-conducteurs minéraux; détermination de l'orientation des monocristaux par reflexion optique

DIN 50433-2-1976系列标准