DIN 50442-1:1981
半导体无机材料的检验.圆形单晶体半导体薄片表面结构的测定.第1部分:切割和研磨的薄片
Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices
DIN 50442-1:1981 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- DIN 50442-1:1981
- 发布
- 1981年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN 50442-1:1981
- 半导体无机材料测试；圆形单晶半导体片表面结构的测定；矿物半导体材料的切割和研磨切片测试；表面结构的测定
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