DIN 50445:1992
半导体工艺材料检验.用涡流法无接触测定电阻率.均匀掺杂半导体片
Testing of materials for semiconductor technology; contactless determination of the electrical resistivity of semiconductor slices with the eddy current method; homogeneously doped semiconductor wafers
DIN 50445:1992 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- DIN 50445:1992
- 发布
- 1992年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN 50445:1992
- 该标准规定了测定均匀掺杂半导体晶片电阻率的测试方法。
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