DIN 50448:1998
半导体工艺材料试验.使用电容式探测器对半绝缘半导体切片电阻率的无接触测定
Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical resistivity of semi-insulating semi-conductor slices using a capacitive probe
DIN 50448:1998 中，可能用到以下仪器设备
DIN 50448:1998相似标准
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