IEC 60749/AMD1:2000
半导体器件机械和气候试验方法修改1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment 1

作废

2002-04

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标准号: IEC 60749/AMD1:2000
发布: 2000年
发布单位: 国际电工委员会
替代标准: IEC 60749/AMD2:2001
当前最新: IEC 60749:2002

被代替标准: IEC 47/1477/FDIS:2000

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