IEC 60749:2002
半导体器件 机械和气候试验方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

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标准号

IEC 60749:2002

发布

2002年

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC 60749:2002

 

 

代替标准

IEC 60749-6:2002 IEC 60749-9:2002 IEC 60749-11:2002 IEC 60749-13:2002 IEC 60749-12:2002 IEC 60749-1:2002 IEC 60749-8:2002 IEC 60749-31:2002 IEC 60749-32:2002 IEC 60749-22:2002 IEC 60749-3:2002 IEC 60749-7:2002 IEC 60749-10:2002 IEC 60749-4:2002 IEC 60749-

适用范围

本国际标准列出了适用于半导体器件（分立器件和集成电路）的测试方法，可供选择。然而，非腔器件可能需要额外的测试方法。注：非空腔器件是指封闭或封装材料与有源元件的所有暴露表面紧密接触的器件，并且器件设计中不包括空隙空间。该标准尽可能考虑了 IEC 60068。该标准的目的是建立统一的首选测试方法以及应力水平的首选值，以判断半导体器件的环境特性。如果本标准与相关规范发生矛盾，则以相关规范为准。

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