IEC 60749 AMD 2-2001
半导体器件 机械和气候试验方法 修改2已作废

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment 2

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标准号

IEC 60749 AMD 2-2001

发布日期

2001年10月

实施日期

废止日期

2002-04

中国标准分类号

L55

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

IX-IEC

代替标准

IEC 60749-6-2002 IEC 60749-9-2002 IEC 60749-11-2002 IEC 60749-13-2002 IEC 60749-12-2002 IEC 60749-1-2002 IEC 60749-8-2002 IEC 60749-31-2002 IEC 60749-32-2002 IEC 60749-22-2002 IEC 60749-3-2002 IEC 60749-7-2002 IEC 60749-10-2002 IEC 60749-4-2002 IEC 60749-

被代替标准

IEC 47/1574/FDIS-2001 IEC/PAS 62190-2000 IEC/PAS 62191-2000