IEC 60749-4:2002/COR1:2003
半导体器件机械和气候测试方法第4部分：高加速连续湿热应力测试 (HAST) 勘误表 1（1.0 版）

Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat@ Steady State@ Highly Accelerated Stress Test (HAST) CORRIGENDUM 1 (Edition 1.0)

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2017-03

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标准号: IEC 60749-4:2002/COR1:2003
发布: 2003年
发布单位: IEC - International Electrotechnical Commission
替代标准: IEC 60749-4:2017
当前最新: IEC 60749-4:2017

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