ASTM E668-00 运用热发光放射量测定系统(TLD)在电子设备放射危害性试验中测定吸收剂量的标准实施规范标准

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适用范围: 1.1 本实践涵盖使用热释光剂量计（TLD）确定电离辐射照射材料吸收剂量的程序。尽管该程序的某些要素具有更广泛的应用，但值得关注的具体领域是电子设备的辐射硬度测试。本实践适用于伽马射线、X射线和能量为12至60 MeV的电子辐照材料吸收剂量的测量。具体的能量限制包含在描述程序的具体应用的适当部分中。涵盖的吸收剂量范围约为10 -2 至104 Gy（1至106 rad），吸收剂量率范围约为10 -2 至10 10 Gy/s（1至10 12 rad/s）。本实践不包括经受中子辐照的材料的吸收剂量和吸收剂量率测量。此外，这些程序中涉及电子辐照的部分主要用于零件测试。作为更大型组件（例如电子板或盒子）的一部分的设备测试可能需要本实践范围之外的技术。注1-电子辐照能量的上限和下限的目的是接近简化剂量测定的极限情况。具体来说，指定的剂量测定方法要求达到以下三个限制条件：（a）一次电子的能量损失很小，（b）二次电子在剂量计内大部分停止，（c）一次电子产生的轫致辐射电子大量损失。
1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

ASTM E668-00
运用热发光放射量测定系统(TLD)在电子设备放射危害性试验中测定吸收剂量的标准实施规范