ASTM E673-01
与表面分析相关的标准术语

Standard Terminology Relating to Surface Analysis


ASTM E673-01 中,可能用到以下仪器

 

芯硅谷分析天平

芯硅谷分析天平

上海阿拉丁生化科技股份有限公司

 

标准号
ASTM E673-01
发布
2001年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E673-02
当前最新
ASTM E673-03
 
 
1.1 该术语与表面分析涉及的各个学科相关。 1.2 列出的定义适用于 (a) 俄歇电子能谱 (AES)、 (b) X 射线光电子能谱 (XPS)、 (c) 离子散射能谱 (ISS)、 (d) 二次离子质谱 (SIMS)、 (e)高能离子分析(EIA)。

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