ASTM E673-01由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2001。
ASTM E673-01 在中国标准分类中归属于: G04 基础标准与通用方法。
1.1 该术语与表面分析涉及的各个学科相关。
1.2 列出的定义适用于 (a) 俄歇电子能谱 (AES)、 (b) X 射线光电子能谱 (XPS)、 (c) 离子散射能谱 (ISS)、 (d) 二次离子质谱 (SIMS)、 (e)高能离子分析(EIA)。
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