ASTM E1217-05
用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
Standard Practice for Determination of the Specimen Area Contributing to the Detected Signal in Auger Electron Spectrometers and Some X-Ray Photoelectron Spectrometers
ASTM E1217-05 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- ASTM E1217-05
- 发布
- 2005年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E1217-11
- 当前最新
- ASTM E1217-11(2019)
- 1.1 本实践描述了当样品区域由电子能量分析仪的电子收集透镜和孔径系统定义时，确定对俄歇电子能谱仪和某些类型的 X 射线光电子能谱仪中检测到的信号有贡献的样品区域的方法。该做法仅适用于那些由入射 X 射线束激发的样品区域大于分析仪观察到的样品区域的 X 射线光电子能谱仪，其中光电子在样品的无场区域中传播到分析仪入口，其中可以安装辅助电子枪，以在样品上产生可变...
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