ASTM E2530-06
用Si(111)单原子层级对原子力显微镜进行次纳米位移级的Z倍率校准的标准规程
Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si(111) Monatomic Steps
2015-01
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：ASTM E2530-06 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- ASTM E2530-06
- 发布
- 2006年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM E2530-06
- 仔细使用此实践可以产生可追溯至 SI 长度单位的校准 z 放大率，在约 1 nm 的高度范围内不确定性 (k = 2) 约为 7%。 1.1 此实践涵盖了校准 z 尺度的测量程序使用 Si(111) 单原子阶梯高度样品的原子力显微镜。 1.2 应用 当原子力显微镜 (AFM) 在其最高水平的 z 放大倍数（即在z 位移的纳米和亚纳米范围。当 AFM 用于测量...
推荐
谁引用了ASTM E2530-06 更多引用
ASTM E3220-20 石墨烯薄片特性的标准指南
ASTM E2245-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的残余应变测量的标准测试方法
ASTM E2244-11(2018) 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
ASTM E2246-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
ASTM E2859-11(2017) 使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南
ISO/TR 18196:2016 纳米技术. 纳米物质特性描述的测量技术矩阵
BS PD ISO/TR 19716:2016 纳米技术. 纤维素纳米晶体的特征描述
ASTM E2245-11 利用光学干涉仪测量反射膜残余应变的标准试验方法
ASTM E2245-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜残余应变的标准试验方法
ASTM E2244-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法