DIN 50455-1:2009
半导体技术用材料的试验.表征光阻剂方法.第1部分:涂层厚度的光学法测定

Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods


标准号
DIN 50455-1:2009
发布
2009年
发布单位
德国标准化学会
替代标准
DIN 50455-1:2009-10
当前最新
DIN 50455-1:2009-10
 
 
引用标准
EN ISO 14644-1
被代替标准
DIN 50455-1:2008 DIN 50455-1:1991

DIN 50455-1:2009相似标准


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