关键词 硅相对灵敏度因子二次离子质谱定量分析预溅射1.1 仪器与测试条件仪器:CAMECA IMS-4F-e7型动态双聚焦二次离子质谱仪,配有铯一次离子源,电子倍增器和法拉第杯检测器,具备检测负二次离子的能力。对于氧、碳元素的测量,典型的测试条件为:采用Cs+作为一次离子束来检测氧和碳的负二次离子,一次离子能量为14.5kV,束流为400nA,扫描面积为250μm×250μm。...
掺Mg量较小时,GaN∶Mg单晶膜呈现N型导电,得不到P型层;掺Mg量过大时,会形成与Mg有关的深施主,由于深施主的补偿作用,得不到高空穴浓度的P型GaN。二次离子质谱法可以分析从氢到铀的所有元素及同位素,具有很高的灵敏度,是检测镁掺杂量的一个重要手段。为了促进国内相关技术的提升,并使我国二次离子质谱定量分析技术规范化、标准化,特制定《氮化镓材料中镁含量的测定二次离子质谱法》。...
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