IEC 60747-15:2010
半导体器件.分立器件.第15部分:单独的电力半导体器件

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices

IEC 60747-15:2010 发布历史

IEC 60747-15:2010由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2010-12，并于 2010-12 实施。

IEC 60747-15:2010 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.99 其他半导体分立器件。

IEC 60747-15:2010 半导体器件.分立器件.第15部分:单独的电力半导体器件的最新版本是哪一版？

最新版本是 IEC 60747-15:2010 。

IEC 60747-15:2010 发布之时，引用了标准

• IEC 60270 高电压试验技术.部分放电测量*， 2015-11-01 更新
• IEC 60664-1:2007 低压系统内设备的绝缘配合.第1部分:原则、要求和试验
• IEC 60721-3-3:1994 环境条件分类 第3部分:环境参数组及其严酷程度的分类分级 第3节:在有气候防护场所的固定使用
• IEC 60747-1:2006 半导体器件.第1部分:总则
• IEC 60747-2 半导体器件.第2部分:分立器件.整流二极管*， 2016-04-01 更新
• IEC 60747-6 半导体器件 - 第6部分:晶闸管*， 2016-04-01 更新
• IEC 60747-7 半导体器件分立器件第7部分:双极晶体管*， 2024-01-24 更新
• IEC 60747-8 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管*， 2024-01-24 更新
• IEC 60747-9 半导体器件第9部分:分立器件绝缘栅双极晶体管*， 2019-11-13 更新
• IEC 60749-5 半导体器件机械和气候测试方法第5部分：稳态温度湿度偏置寿命测试*， 2023-12-19 更新
• IEC 60749-6 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存*， 2017-03-01 更新

* 在 IEC 60747-15:2010 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

IEC 60747-15:2010的历代版本如下：

• 2010年 IEC 60747-15:2010 半导体器件.分立器件.第15部分:单独的电力半导体器件
• 2003年 IEC 60747-15:2003 半导体分立器件.第15部分：孤立的电力半导体器件

IEC 60747 的这一部分给出了隔离功率半导体器件的要求，不包括具有集成控制电路的器件。这些要求是对 IEC 60747 其他部分中针对相应非隔离电源设备给出的要求的补充。

标准号

IEC 60747-15:2010

发布

2010年

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC 60747-15:2010

 

 

引用标准

IEC 60270 IEC 60664-1:2007 IEC 60721-3-3:1994 IEC 60747-1:2006 IEC 60747-2 IEC 60747-6 IEC 60747-7 IEC 60747-8 IEC 60747-9 IEC 60749-10 IEC 60749-12 IEC 60749-15 IEC 60749-21 IEC 60749-25 IEC 60749-34 IEC 60749-5 IEC 60749-6

代替标准

ANSI/NFPA 96:2013

被代替标准

IEC 47E/403/FDIS:2010 IEC 60747-15:2003

IEC 60747-15:2010相似标准

推荐