ISO 11938:2012由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2012-03。
ISO 11938:2012在国际标准分类中归属于: 71.040.50 物理化学分析方法。
本标准有等同采用的 中文版 GB/T 32055-2015 微束分析 电子探针显微分析 波谱法元素面分析
ISO 11938:2012 微束分析. 电子探针微量分析. 使用波长色散光谱对元素映射的分析方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 ISO 11938:2012 。
* 在 ISO 11938:2012 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
本国际标准提供了使用波长色散光谱法进行电子微探针元素图分析的程序。 评估电子束在样本上以数字方式移动的测绘(电子束测绘)和仅使用载物台移动的测绘(大面积测绘)之间的选择。 它描述了五种数据处理类型:原始X射线强度数据法、k值法、校准法、相关法和矩阵校正法。
X21-013-2012 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).应用波长色散光谱学进行元素映射分析方法 NF X21-009-2008 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇 NF A92-801-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第4部分:使用电探针微量分析法(EPMA)测量化学成分 德国标准化学会,关于epma 制样的标准 DIN EN 1071-4-2006...
以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线,对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理试验,又称电子探针X射线显微分析。电子探针分析的原理是:以动能为10~30千电子伏的细聚焦电子束轰击试样表面,击出表面组成元素的原子内层电子,使原子电离,此时外层电子迅速填补空位而释放能量,从而产生特征X射线。...
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