GB/T 28634-2012
微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析
Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
GBT28634-2012, GB28634-2012
哪些标准引用了GB/T 28634-2012
- 标准号
- GB/T 28634-2012
- 别名
- GBT28634-2012
GB28634-2012 - 发布
- 2012年
- 采用标准
- ISO 22489:2006 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 28634-2012
- 引用标准
- GB/T 17359-2012 GB/T 27025-2006 GB/T 27025-2008 GB/T 4930 ISO 14594
- 适用范围
- 本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS）,通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。 内容包括： ——定量分析原理； ——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围； ——仪器的一般要求； ——有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。 本标准适用于电子束垂直入射，要求定量分析的试块试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。
推荐
【干货】电子探针显微分析仪这么飒？
2、波普仪与能谱仪的主要性能比较 3、电子探针显微分析的两种方法电子探针分析有两种基本分析方法：定性分析和定量分析。（1）定性分析 定性分析是对试样某一选定点（区域） 进行定性成分分析，以确定点区域内存在的元素。定性分析的原理：用光学显微镜或在荧光屏显示的图像上选定需要分析的点，使聚焦电子束照射在该点上，激发该点试样元素的特征X射线。...
《微束分析 电子探针显微分析（EPMA）术语》征集意见
按要求，新版《微束分析 电子探针显微分析(EPMA)术语》将替代《微束分析 电子探针显微分析(EPMA)术语》GB/T 21636—2008/ISO 23833:2006。...
扫描电镜（SEM）资料大全
c）微区化学成分分析 在样品的处理过程中，有时需要提供包括形貌、成分、晶体结构或位向在内的丰富资料，以便能够更全面、客观地进行判断分析。为此，相继出现了扫描电子显微镜—电子探针多种分析功能的组合型仪器。扫描电子显微镜如配有X射线能谱（EDS）和X射线波谱成分分析等电子探针附件，可分析样品微区的化学成分等信息。...