KS D ISO 22493:2012
微光束分析.扫描电子显微镜.术语
Microbeam analysis－Scanning electron microscopy－Vocabulary
KS D ISO 22493:2012 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- KS D ISO 22493:2012
- 发布
- 2012年
- 发布单位
- 韩国科技标准局
- 替代标准
- KS D ISO 22493-2012(2017)
- 当前最新
- KS D ISO 22493:2022
- 이 표준은 주사전자현미경(SEM) 분석에서 사용하는 용어를 정의한다. 이 표준은 체계적인
KS D ISO 22493:2012相似标准
推荐
扫描电镜的基本内容介绍
此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。...
什么是扫描电子显微镜？
此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。...
扫描电子显微镜的技术特点和应用
此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。...
扫描电子显微镜的功能介绍
此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。...